Chroma Model 29130/29132/29133/29135 液晶模组自动测试系统
2016-03-21
Chroma 29130/29132/29133/29135 为满足液晶模组测试所需之要件及厂区产线管理之概念，系统以电脑架构之强大网路连线功能及其灵活且简易之人机介面为基础，整合视讯产生器、多通道高精度电源供应器及程序控制单元，针对液晶模组信号、图像及电气提供完整之测试需求。
使用者可依液晶模组所需之工作特性编辑测试程式，透过滑鼠及R emo t e K e y p a d 提供当今产线最完整且最简易之测试模式，以提升生产效率。 29130/29132/29133/29135 液晶模组自动测试系统提供下列测试功能:
(1) 测试程式的编辑 可依据液晶模组电气规格，提供电源启始/结束时间 (Turn On / Turn Off)、扫描时序(Timing)、图像(Pattern)、供应电压/电流上下限保护设定(OCP / OVP / UCP / UVP)、即时上升/下降电压改变(Ramp Up / Ramp Down)等参数设定，提供液晶模组最完整且最精确之测试。
(2) 画面品质之测试 内建标准图像或使用者可藉由ICON 之任意组合，自行建立所需之几何图像，亦可输入副档名为BMP/JPG 之自然画像，同时动画功能亦可提供LCD之反映时间 (Response time)测试，所有图像皆可依液晶模组之且析度不同自动缩放，搭配编辑图像预览之功能，提升图像编辑之便利性。
(3) 时序设定及图像编辑 提供视讯电子标准委员会(VESA)之时序及图像，并可依据客户需求自行建立测试时序及图像应用，并提供液晶模组所需之LVDS / TMDS / TTL(选购)信号。
(4) 输出电压、电流量测及判定 系统提供15V/4A、16V/1A、25V/3A、25V/20A外挂电源可提供可程式直流电源输出，藉着RS232标准介面以提供液晶模组控制晶片、驱动晶片及背光模组所需之电源，每一输出皆包含电压、电流之实际读值，其独特设计可使量测点移至负载端，避免传输压降，确保量测精度达mV等级，以完整解析液晶模组之工作状态，同时每个输出频道能模拟电源开/关之时序关系、Ramp-up/down之波型输出及过电压及电流保护之功能，当状态逾越设定时，除产生保护动作外，并利用灯号及声响提醒操作者处置。
(5) 测试方式 于测试时，应用滑鼠及Keypad控制十字座标缺点定位检查及纪录，且液晶模组之缺陷种类可依据测试图像建立，大幅缩短测试时间。因此不论于研发及产线应用，皆可以最快速之方式完成测试。
(6) 网管控制(选购) 透过网路介面进行测试程式维护与管理、硬体组态配置、资料上传/下载、统计、EDID写入比对之网管连线功能，使系统管理者在第一时间掌握厂区生产状态，并可作为产能、效率、良率之检讨。
Chroma 29130/29132/29133/29135液晶模组自动测试系统以电脑系统整合信号源/电源提供液晶模组图像及电气完整之规格测试，搭配简易之系统程式进行Timing / Pattern / Power / Program编辑以滑鼠或keypad进行液晶模组之缺陷纪录，以系统本身自动之电气规格判定及快速之缺陷种类选择，将大幅缩短产线测试时间，且以电脑为架构更能发挥网管控制功能优势，提供产线生产管理之最佳应用。长沙艾克赛普仪器设备有限公司作为台湾Chroma公司湖南区域的总代理，以下为长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您简单介绍Chroma Model 29130/29132/29133/29135 液晶模组自动测试系统的技术参数及产品特点，如果您想对Chroma Model 29130/29132/29133/29135 液晶模组自动测试系统有更多的了解，欢迎致电长沙艾克赛普仪器设备有限公司，联系电话：0731-84284278 84284378。更多产品信息欢迎点击：www.hncsw.net。长沙艾克赛普仪器设备有限公司。
Chroma Model 29130/29132/29133/29135 液晶模组自动测试系统主要特色：
符合Full HD 量测(29132/29133/29135)
计算机平台之液晶模块测试系统
LVDS / TTL (选购) / TMDS信号提供(29130 LVDS 8bit)
显示画面分辨率可达WUXGA@60Hz
高精度之可编程直流电源
外接式直流电源控制(选购)
电源保护OVP / OCP / UVP / UCP
电压/电流量测
GO / NOGO快速判定功能
简易之时序/ 图像/ 测试程序之编辑
时序/图像/ 测试程序无限制储存
EDID读出/ 写入/ 比对
液晶模块缺陷代码编辑及纪录
十字坐标缺点定位检查
JPG / BMP / AVI / MEPG 檔提供
键盘操作
特殊I/O
网络整合功能(选购)
产线过程控制及资料收集
最新资讯
